1. 제 목 : X-선을 이용한 재료의 구조 분석 – X-선 회절을 중심으로

2. 연 사 : Ph.D. 정진석, 숭실대학교 자연과학대학

3. 일 시 : 2012년 8월 1일 (수) 11:00a.m.~12:00p.m.

4. 장 소 : 301동 1409호 세미나실

5. 내 용 :

X-선을 이용하여 재료의 구조를 분석하는 다양한 방법들에 대한 소개를 하고자 한다. X-ray fluorescence, x-ray diffraction, x-ray reflectivity 등에 대하여 소개하고 각 방법의 장단점과 얻을 수 있는 정보에 대하여 설명할 것이다.

여러 가지 구조분석 방법들 중 X-선 회절은 가장 널리 쓰이면서, 가장 표준적인 구조분석 방법으로 인정을 받고 있다. 이 강좌에서는 X-선 회절을 이용한 구조분석에 대하여 좀 더 심도 있게 소개할 것이다. 그 내용에는 XRD를 이용한 구조분석, 집속된 X-선을 이용한 X-선 미세회절, Gazing Incidence Diffraction(GID), 방사광원을 이용한 X-선 회절분석 등의 내용이 포함된다.

 

6. 약 력 :

*학력

‘90-’96 Ph.D., Condensed Matter Physics, Purdue University

‘86-’88 M.D., 고체물리학 실험, 서울대학교

‘82-’86 B.D., 물리, 서울대학교

*주요경력

’00 3월~현재 숭실대학교 자연과학대학 물리학과 교수

‘02 05월~’06 4월 방사광이용자협회 전문위원

‘01 7월~’05 6월 포항가속기연구소 겸임연구원

 

※ 문 의 : 기계항공공학부 Kyeongjae Cho 교수 (880-1709)